金属测试与分析试题

来源:百度文库 编辑:神马文学网 时间:2024/04/30 02:16:18
透射电镜、扫描电镜、电子探针和X射线衍射仪的主要用途。
透射电子显微镜是一种能够以原子尺度的分辨能力提供物理分析和化学分析所需全部功能的仪器。选区电子衍射技术功能能够使微区形貌与微区晶体结构分析结合起来,再配以能谱或波谱可以进行微区成份分析。即TEM是能够进行形貌--结构--成分三位一体分析的电子分析仪器,也是当前最重要的材料测试分析仪器。
扫描电子显微镜(Scanning electron microscope-- SEM),以较高的分辨率(3.5nm)和很大的景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌,并以多种方式给出微区成份等信息,用来观察断口表面微观形态,分析研究断裂的原因和机理,以及其它方面的应用。
电子探针(EPMA)是在扫描电镜的基础上配上波谱仪或能谱仪的显微分析仪器,它可以对微米数量级侧向和深度范围内的材料微区进行相当灵敏和精确的化学成份分析,基本上解决了鉴定元素分布不均匀的困难。其原理是用细焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征X射线。
X射线衍射仪XRD是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析. X射线的本质是电磁波具有波粒二象性。
X射线与物质的相互作用:X射线散射(相干散射和非相干散射)X射线的吸收(光电效应与荧光(二次特征)辐射)
透射电镜主要部件:电子光学部分(电子枪聚光镜,样品室,(成像系统-物镜,中间镜,投影镜),图像观察和记录系统(荧光屏,照相机,数据显示器))真空系统,供电系统
透射电镜样品的主要制备方法
3:在加速电压为200kv时拍摄的金多晶膜的电子衍射花样的测量和分析计算结果如下表所示:取平均值后,相机常数为1.483 mm·nm。
衍射环标号(j)
1
2
3
4
5
6
7
R(mm)
6.28
7.27
10.29
12.05
12.57
14.62
15.87
R2
39.44
52.35
105.9
145.2
158.0
213.8
251.8
R2j/R21
1.00
1.34
2.68
3.68
4.06
5.42
6.38
(R2j/R21)×3
3.00
4.02
8.0
10.94
12.18
16.26
19.14
N
3
4
8
11
12
16
19
{hkl}
111
200
220
311
222
400
331
d(nm)
0.2355
0.2039
0.1442
0.123
0.1177
0.102
0.09358
λL=Rd(mm
1.479
1.482
1.483
1.482
1.479
1.491
1.485